Trakによる電子ビームと電界強度表示(左)、放出電子とおよび2次電子と電位分布の表示(右)
機能
荷電粒子軌道計算、ビーム輸送計算（シミュレーション）および電子/イオン銃設計。
および計算結果の加工・解析、可視化
製品概要
複数の種類の荷電粒子の取り扱いも可能。
Trakは、荷電粒子光学および電子銃設計用シミュレータとして、様々なコンピュータ・プラットフォーム上で利用可能なものの内で、最も進んだソフトウェアの1つです。
このプログラムは、１粒子軌道計算あるいは二次元(直交座標系あるいは円筒座標系)の電界および磁界中の定常ビームを高精度な有限要素法を適用してシミュレートします。
ビームにより生成される電場及び磁場の影響、荷電粒子初期分布の自動生成、自己無撞着な空間電荷制限放出および電界放出を含んでいます。
応用分野は、電子およびイオン銃、電子光学装置、電子顕微鏡、真空マイクロエレクトロニクスおよび相対論的高出力ビームのシミュレーション・解析などです。
(Mesh が必要。また必要に応じてEStat (電場計算)または PerMag（磁場計算）を併用します。Pro版:Mac、Windows対応、Basic版:Windows対応)
特徴
- 分かりやすく、すぐに実行可能な例題の付いたマニュアル（現在英語のみ）
- 別のメッシュによって計算された電場や磁場を取り込んで計算が可能
- 複数ソースからの空間電荷制限放出を自己無撞着(self-consistent)に計算
- 電極表面近傍でも高精度な軌道計算が可能
- 停止面までの高精度補間によるレンズ特性の評価
- ハードコピー機能を備えた、軌道及び電場、磁場プロット用対話型ポストプロセッサー
- 高度な二次放出モデルと多重生成電子軌道の自動追跡
- エミッタンスと電流密度の自動計算
- テキスト形式でフォーマットされた出力ファイルにより、ユーザーアプリケーションや数学的解析プログラムへ容易に情報の受け渡しが可能
- 荷電粒子ビームの初期分布の設定や計算後のビームプロファイルの解析を行うプログラムGenDist付属
- シンプルな設定画面
- 価格情報および注文
Trakは「Trak荷電粒子解析キット」、「高機能荷電粒子設計セット」に含まれています。
